新品 | "ZM-C2H-PE"小型化電容測(cè)試板卡，輕松替代傳統(tǒng)儀器!

CONTEC 電容測(cè)量儀板卡

株式會(huì)社康泰克（總公司：大阪市西淀川區(qū)，董事長：西山和良）開發(fā)了面向多層陶瓷電容器量產(chǎn)品檢查的測(cè)量儀器板卡，并作為PCI Express兼容電容測(cè)試卡“ZM-C2H-PE”自2024年12月17日起開始訂購。

●一臺(tái)電腦可實(shí)現(xiàn)控制……

●一臺(tái)電腦可數(shù)據(jù)測(cè)量……

●一臺(tái)電腦可上位通信……

什么是陶瓷電容器？

目前，全球生產(chǎn)的電容器中約80%是多層陶瓷片式電容器(MLCC)。智能手機(jī)中大約使用400至500個(gè)電容器，筆記本電腦和平板電腦中大約使用700至1000個(gè)電容器，iPhone7的MLCC用量約900顆，平均每臺(tái)純電動(dòng)車需要1.7萬顆到1.8萬顆，比一般燃油車3000顆到3700顆增加近6倍。如果沒有多層陶瓷電容器的小型化技術(shù)，電子設(shè)備的小型化和輕量化就不可能實(shí)現(xiàn)。

什么是電容測(cè)試儀？

電容測(cè)試儀是一種在實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線上測(cè)量電容器等電子元件電容的測(cè)量儀器。作為商品化的測(cè)量儀器，通常有可以測(cè)量L（電感）、C（電容）、R（電阻）、Z（阻抗）等多個(gè)元件的LCR，或者只能測(cè)量電容的電容測(cè)量計(jì)。

CONTEC

電容測(cè)試卡

新品是一款創(chuàng)新的電容測(cè)試卡，它基于PCI Express總線技術(shù)，專為高速、高精度的電容（C）和損失系數(shù)（D）測(cè)量而設(shè)計(jì)。這款測(cè)試卡配備了兩個(gè)4端子測(cè)量通道，其性能相當(dāng)于傳統(tǒng)上需要兩臺(tái)臺(tái)式測(cè)量儀器的總和，為Windows電腦用戶提供了前所未有的便捷性。

01.高性能與高精度

該測(cè)試卡能夠高速、高精度地測(cè)量電容和損失系數(shù)，滿足了對(duì)電子部件嚴(yán)格的質(zhì)量控制需求。

02.小型化節(jié)約成本

通過集成兩個(gè)4端子測(cè)量通道，一塊測(cè)試卡即可提供相當(dāng)于兩臺(tái)臺(tái)式測(cè)量儀器的功能，從而顯著減小了檢查系統(tǒng)的體積，降低了成本。

03.大容量測(cè)量范圍

能夠測(cè)量從400pF到最大1400μF的電容值，以及相應(yīng)的能量損失系數(shù)，滿足了對(duì)大容量多層陶瓷電容器的檢測(cè)需求。

03.高速度數(shù)據(jù)處理

利用PCI Express高速本地總線的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的高速處理，有助于縮短節(jié)拍時(shí)間，提高生產(chǎn)效率。

03.兼容性強(qiáng)大靈活

該測(cè)試卡與Windows電腦兼容，易于集成到現(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng)中，提高了系統(tǒng)的靈活性和可擴(kuò)展性。

03.可簡(jiǎn)化檢查流程

通過減少所需的測(cè)量儀器數(shù)量和簡(jiǎn)化通信方式，簡(jiǎn)化了電子部件的檢查流程，降低了操作復(fù)雜度。

陶瓷電容器&解決方案

新產(chǎn)品ZM-C2H-PE具備PCI Express兼容的電容測(cè)試卡。它將傳統(tǒng)的臺(tái)式測(cè)量儀器功能擴(kuò)展到了PCI Express擴(kuò)展板上，不僅實(shí)現(xiàn)了檢查系統(tǒng)的小型化，還充分利用了PCI Express高速本地總線的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的高速處理。這一創(chuàng)新設(shè)計(jì)不僅提高了生產(chǎn)效率，還有效縮短了節(jié)拍時(shí)間，為電子部件的批量生產(chǎn)提供了強(qiáng)有力的支持。